簡(jiǎn)要描述:阻抗測試儀 IM3570實(shí)現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查L(cháng)CR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量基本精度±0.08%的高精度測量適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線(xiàn)圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時(shí)間間隔測量
產(chǎn)品分類(lèi)
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品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) |
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應用領(lǐng)域 | 電子 |
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1臺儀器實(shí)現不同測量條件下的高速檢查 |
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阻抗測試儀 IM3570 |
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阻抗測試儀 IM3570主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭。 |
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基本參數 |
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