簡(jiǎn)要描述:阻抗分析儀IM3570功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線(xiàn)圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時(shí)間間隔測量
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category相關(guān)文章
Related Articles詳細介紹
阻抗分析儀IM3570產(chǎn)品特點(diǎn): 1臺儀器實(shí)現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查 LCR模式下zui快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量 基本精度±0.08%的高精度測量 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線(xiàn)圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時(shí)間間隔測量 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
阻抗分析儀IM3570產(chǎn)品詳情:
|
產(chǎn)品咨詢(xún)
電話(huà)
微信掃一掃